LED 显示屏专用高低温冲击试验机|上海伯东

inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击试验机 http://www.hakuto-vacuum.cn/product-detail.php?id=289
上海伯东美国 inTEST 中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 高低温冲击试验机，温度测试范围：-80°C 至 +225°C，可以精准快速的实现 PCB 板、电子元件、集成电路 IC 卡、半导体芯片等电子元件的高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击试验 Thermal stock 、老化试验、可靠性试验等。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温冲击试验机 Temptronic TP04310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！~

inTEST Temptronic  ATS-545-M  高低温冲击试验机特性：
高低温测试范围：-80°C 至 +225°C
自动升降温，不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却。
连续排气量：4 至 18 scfm ( 1.8 至 8.5  l/s)
变温速率：-55°C 至 +125°C, <10 秒
                  +125°C 至 -55°C, <10 秒
温度显示分辨率：±1℃
温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。
加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗
2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器：T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
LabViewTM 驱动
支持测试数据存储
热流罩提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结
手持热管也可以随意的移动到被测组件上
CE相容 不含CFC：inTEST-Temptronic ATS-545-M 高低温冲击试验机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境
旋钮式控制面板

inTEST ATS-545-M 高低温冲击试验机基本参数

提供 inTEST -Temptronic ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

Temptronic ThermoStream 高低温冲击试验机应用：
集成电路 IC 卡高低温测试、电子元件高低温测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件(闪存,)高低温测试等等任何您需要测试的地方！

与传统高低温测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：
1、变温速率更快
2、温控精度：±1℃；
3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

上海伯东客户 inTEST 高低温测试机光通信收发器(transciever)温度测试案例：

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream  ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。
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