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品 质 特 征
1高精度大理石工作台 底座及立柱。
2三轴台湾上银精密直线导轨和研磨级滚珠螺杆。配合高性能松下伺服马达全闭环控制，高稳定性、高精度。
3美国TEO彩色600线高清CCD。
4可程控四杯八区LED表面光，直轴轮廓光
5精密光学尺0.001mm。（选配德国海德汉开放式贴片光栅尺）
6自主研发功能强大的全自动测量软件，可自动编程测量。
7自动变倍镜头,改变倍率后不需要重新校正
技 术 参 数
T型：选配接触测头组 H型：选配激光测头组
仪器型号
VMH3020 VMH4030 VMH5040 VMH6050 VMH7060
仪器参数
测量范围
（mm）X300400500600700
Y200300400500600
Z150150150150150
工作台
（mm）大理石台面640*410740*510860*610960*7101070*810
玻璃台面354*254459*359548*438648*538748*638
承重50kg50kg50kg50kg45kg
影像及测量系统
测量速度MAX:300mm/s
CCD美国TEO彩色600线高清CCD
变焦物镜全自动变倍镜头0.7－4.5X
视频放大倍率30－230X
工作距离82mm
显示分辨率0.0001mm
重复性1.5μm
测量精度(μm)XYZ轴≦(1.8+L/150)um,Z轴(光学测量时)≦(5+L/200)um
外形尺寸（mm)850*650*17001050*750*17001260*870*17001360*950*17001550*1050*1700
仪器重量(kg)230kg320kg450kg470kg530kg
照明可程控四杯八区LED表面光及轮廓光(配同轴光)
电源220V±10%(AC) 50HZ 电流大于15A
一、功能：包括三次元、二次元、工具显微镜、投影仪的功能。
二、功能强大的2D/3D测量系统
①光学座标系统为基点测量产品的任意二维尺寸。
②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。
③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量完美结合。
全自动编程：光学测量及探针测量可同时在一组编程中混合使用。基本功能介绍：
1.提供影像量测工具，可进行基本几何元素点线圆弧量测
2.组合元素量测，如角度,,圆心距,圆切线,两线距，两线中线,中心点，垂直距离，角平分线,两线交点等
3.形位误差量测，如同心度,真圆度,直线度,平行度等
4.强大之数学运算分析
5.影像直接经由计算机屏幕显示观察直接量测存盘
6.利用影像工具可快速进行2D轮廓边界点扫描
7.量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转TXT、WORD、EXCEL及AUTOCAD档案式
8.提供公差分析，可进行有效之品管检验
9.工件的对象化可直接对对象进行几何基本运算
10.兼容于2000, XP操作系统
高级功能介绍：
11.自动对焦
12.影像自动捕捉，操作简便，量测精度高
13.IUI功能，以尽可能少的时间完成操作
14.AUTOCAD读档，图形比对
15.全自动同心变倍，同一工件可在不同倍率下量测
16.工作不必摆正，有座标转换功能，量测效率高
17.全自动编程测量(支持离线编程)
18.SPC功能
19.静态量测功能。
20.工件测量图片取像功能。
